開關設備的電流開斷過程是弧隙由小阻抗到高阻抗的變化過程。當熔斷器中的電流從開斷瞬時起，西安熔斷器生產廠家其弧隙將會迅速從良導體轉變為絕緣體，并且能承受電力系統加在弧隙上的恢復電壓，以阻止電流通過弧隙。
熔斷器分斷故障電流后，弧隙還是一個具有一定電阻的導體，在恢復電壓的作用下弧隙中就有電流通過，將此電流定義為弧后電流{ ( post-arccurrent)。
弧后電流研究，西安熔斷器生產廠家對于熔斷器的弧后電流研究，多為20世紀之前的研究，針對弧后電流的大小以及殘軀電阻等方向。
弧后電流國外研究現狀，1978年，M.R. Barrau在 PROC.IEE發表的文章Factors influencing the formation and structureof fuse fulgurites中首次提到 post-arc current的概念，并指出銀和鋁熔體的弧后電流均隨著熔體幾何尺寸的增大而增大，且相同幾何形狀的銀熔體的弧后電流往往小于鋁焰體弧后電流；
1992，波蘭羅茲工業大學 Jakubluk K.， Lipski T在其論文 Dynamics of Fulqurite Formation
during Arcing in HRC Fuses中詳細闡述了熔斷器殘軀的形成過程，并給出了熔斷器弧后恢復過程集中在兩條平行路徑上；
一個是分散在石英砂中井與焰體未端電流連接的金屬層之間的間隙
第二個是沿著熔融的二氧化硅壁。
同年，在第七屆“ Switching Arc Phenomena國際會議上，羅茲工業大學的 Cwidak K， Lipski T.發表了 Post-arcresistance in h.b.c. fuses，將熔斷器的弧后恢復過程用殘軀電阻(熔斷器兩端恢復電壓與弧后電流的比值)來反應Ehrhardt A， Nutch G.， Rother W發表了 Das Verhalten vonelektrischen Sicherungen nach Stromnull(西安熔斷器生產廠家弧后電流特性)，指出熔斷器弧后殘軀電陽與溫度有很大關系，Cwidak K， Lipski T。在1995發表的 New results on thepost-arc fulgurite resistance of h.b.c. fuses也進一步印證了這個觀點。
